- Hochauflösende Verfahren zur Analyse von Rauheit und Morphologie (Rasterkraftmikroskopie, Rasterelektronenmikroskopie, Weißlichtinterferometrie, Laserscanning-Mikroskopie)
- Analyse optischer Eigenschaften (Spektralphotometrie, hochsensitive winkelaufgelöste und totale Streulichtmessung)
- Analyse funktionaler Eigenschaften (Benetzungsanalyse, Haftfestigkeit, Kratzfestigkeit / Tribologie, Umweltbeständigkeit)
Neben der Entwicklung und des Einsatzes von einerseits hochsensitiven Analysemethoden, die maximalen Erkenntnisgewinn ermöglichen, und andererseits Methoden, die bei Bedarf aber auch wirtschaftlich und praktikabel sein können, streben wir insbesondere auch die Standardisierung und belastungsfähige Integration in zertifizierte Prozessketten an. Wir sind aktives Mitglied in VDI-Gremien und im DIN/ISO TC 172/SC 9 »Laser and electro-optical systems«.
Darüber hinaus entwickeln wir kundenspezifische, streulichtbasierte Messsysteme und Sensoren, die eine hocheffiziente, berührungslose und schnelle Bestimmung von Rauheit und Defekten ermöglichen. Die Systeme sind in einem breiten Anwendungsspektrum einsetzbar - von Maschinenbauteilen bis zu optischen Oberflächen. Sie können direkt in die bestehenden Herstellungsprozesse integriert werden.