Optikcharakterisierung
Für die Systementwicklung und Analyse ist die Messtechnik überaus wichtig. Daher charakterisiert das Fraunhofer IOF neue Komponenten und überprüft realisierte Systeme.
Desweiteren fließen Messgrößen z. B. zu Streueigenschaften, Leuchtdichteverteilung oder der Modulationsübertragungsfunktion (MTF) direkt in den Design-Prozess ein. Hierzu hält das Fraunhofer IOF folgende Messplätze vor:
- MTF, Brennweite, Abbildungsmaßstab
- Leuchtdichte, Nah- und Fernfeld
- Spektrometer
- Laserstrahlanalyse
- Streulichtanalyse von optischen und nicht-optischen Oberflächen
- Mikrodisplaycharakterisierung
- Freiformcharakterisierung und Vermessung spiegelnder Objekte
- Vermessung von Freiformen durch computer generierte Hologramme (CGH)
- Deflektrometrie