Laborausstattung, Messsysteme |
Typ / Hersteller |
Aufgabe (Messbereich/Auflösung/Genauigkeit) |
MTF-Messung (Modulationstransferfunktion) |
OEG |
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Lichtquellenvermessung im Nah- und Fernfeld |
PRC Krochmann |
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Mikrodisplaycharakterisierung |
Eigenbau |
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Brennweitenbestimmung |
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Modenspektroskopie, Brechzahl(profil)messung (ATR) |
Eigenbau |
n, D von Wellenleiterschichten, Profile (dn ~10-4, (457, 476, 488, 514, 633, 780, 1310, 1550 nm, 2 WL Moden)) |
Absorptions- und Wellenleiterdämpfungsmessung |
OSA/Agilent 86140B |
Wellenleiterdämpfungsmessung (Weißlichtquelle) |
Bestimmung thermooptischer Koeffizienten/Abbe Refraktometer |
Eigenbau |
dn/dT flüssige und feste Proben (20...85° C, dn 0,0003) |
Bestimmung von Brechzahlverteilungen (RNF) |
Rinck Elektronik |
n(x,y) von Wellenleitern (dx~1µm, dn~10-4, (670 nm, 1300 nm, 1550 nm)) |
Shearing-Interferometrie |
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Autofokusmikroskopie zur Formvermessung |
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Interferenzmikroskopie zur Schichtdickenmessung |
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Präzisionsgoniometer |
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Taktile und interferometrische Systeme zur Vermessung von Freiformen |
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Autofokusmikroskop zur Formvermessung |
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Interferenzmikroskop zur Schichtdickenmessung |
