Analyse optischer Eigenschaften
Spektralphotometrie für Transmissions- und Reflexionsmessung im UV/VIS/IR
- Ex-situ Absolutmessung bei variablen Einfallswinkeln, Spektralbereich 200-2500 nm
- Messungen an gekrümmten und kleinen Oberflächen (Messfleck 17-70 µm)
- FTIR-Spektralphotometrie mit einem erweiterten Messbereich bis zu 100 cm-1
- Analyse der Brechzahl, n und k Konstanten, Schichtdicke, thermischer und Vakuumshift
- Online-Spektrometrie (OptiMon-Technologie) zur in-situ Prozesskontrolle und Vakuumshiftmessung in Transmission
Streulichtanalyse
- Winkelaufgelöstes und totales Streulicht, optische Verluste: BRDF, BTDF, ARS, TS (ISO)
- Hochsensitive Reflexions- und Transmissionsmessungen
- Wellenlängen UV-VIS-IR (13,5 nm, 157 nm, 193 nm – 2700 nm, 4,6 µm, 10,6 µm)
Spektrale Ellipsometrie
- Messung unter variablen Winkeln im Spektralbereich 200-2500 nm
- Bildgebende Ellipsometrie, laterale Auflösung < 1 µm